서비스

테스트베드 서비스

Blanket

Blanke _ W(Tungsten)

300mm 실리콘 웨이퍼 위에 텅스텐(W)막을 증착하는 Blanket Wafer 제작 서비스입니다.
Blanke _ W(Tungsten) 구조

제작 사양

웨이퍼 규격
300mm
기판
Sub_Si
하부막
LPTEOS 500Å/TiN <300Å
상부막
W 50~3000Å

공정 및 장비

단계 공정 진행 장비
01 FN Cleaning NSM312
02 Oxidation FORMULA
03 Ox SCR NSM312
04 ALD TiN Dep. Triase+EX-II TiN Plus
05 TiN Dep. SCR NSM312
06 CVD W Dep. ALTUS
07 W Dep. CLN NSM312_SPM
08 Thickness Measurement ECHO
09 Particle Measurement SP7XP

유의사항

  • Ox SCR은 RINSE 방식으로만 진행됩니다.
  • TiN Dep. SCR은 RINSE 단독 또는 NANO 방식으로 진행됩니다.
  • W Dep. CLN은 H2SO4+H2O2_H+HF+IPA 방식으로 진행됩니다.